大多數(shù)電子產(chǎn)業(yè)使用的納米粒子都存在于流體溶液中，且也被允許可處于干燥狀態(tài)。常用的透射電子顯微鏡（TEM）可在納米粒子干燥后為其成像，但是干燥的流體往往會(huì)扭曲納米粒子的結(jié)構(gòu)，而校正結(jié)構(gòu)的過(guò)程通常相當(dāng)復(fù)雜，一個(gè)設(shè)計(jì)完成在之前，須經(jīng)過(guò)反覆多次的試驗(yàn)